เพอรอฟสไกต์
สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์
เครื่องมือประเมิน

CEP-2000 เครื่องมือวัดความไวเชิงสเปกตรัม (Spectral Sensitivity Measurement System)

(สำหรับประเมินเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดสีย้อมไวแสง / ฟิล์มบางออร์แกนิก / เพอรอฟสไกต์)

เครื่องมือนี้ใช้สำหรับวัดคุณลักษณะความไวเชิงสเปกตรัมและประสิทธิภาพเชิงควอนตัมของเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดต่างๆ โดยการฉายแสงเดี่ยว (Monochromatic Light) ที่มีพลังงานคงที่และโฟตอนคงที่ซึ่งไม่มีความพึ่งพาต่อความยาวคลื่นลงบนเซลล์แสงอาทิตย์
เมื่อเทียบกับเครื่องมือสำหรับชนิดซิลิคอนแล้ว เครื่องนี้มีการฉายแสงพลังงานคงที่ปริมาณแสงสูง (สูงสุด 5mW/cm2) และการฉายโฟตอนคงที่ (สูงสุด 1016photon/cm2) จึงเหมาะสมที่สุดสำหรับการประเมินเซลล์แสงอาทิตย์ระบบออร์แกนิก (เซลล์แสงอาทิตย์ชนิดสีย้อมไวแสง, ฟิล์มบางออร์แกนิก, เพอรอฟสไกต์)

SM-250 ระบบไฮเปอร์โมโนไลต์ (Hyper Monolight System)

(เครื่องมือวัดความไวเชิงสเปกตรัมแบบตั้งโต๊ะ)

วัดปริมาณแสงที่ฉาย (mW/cm^2) ในแต่ละความยาวคลื่นด้วยซิลิคอนโฟโตไดโอดที่ผ่านการปรับเทียบค่าแล้ว และวัดค่ากระแสไฟฟ้าของตัวอย่างที่ทดสอบโดยอิงจากปริมาณแสงที่ฉายนั้นด้วยซอฟต์แวร์เฉพาะ (SR_PRO) ทำให้สามารถแสดงผลความไวเชิงสเปกตรัมและประสิทธิภาพเชิงควอนตัมของเซลล์แสงอาทิตย์และอุปกรณ์แปลงพลังงานแสงเป็นไฟฟ้าชนิดต่างๆ ได้โดยอัตโนมัติด้วยระบบออปติกตะเกียงซีนอนที่เป็นเอกลักษณ์ของ Bunkoukeiki และเครื่องแยกแสง (Monochromator) ประสิทธิภาพสูง ทำให้สามารถฉายแสงเดี่ยวปริมาณมาก (5mW/cm^2) ได้ ซึ่งเหมาะสมที่สุดสำหรับการประเมินเซลล์แสงอาทิตย์ระบบออร์แกนิก (เซลล์แสงอาทิตย์ชนิดสีย้อมไวแสง, ฟิล์มบางออร์แกนิก, เพอรอฟสไกต์)

OTENTO-SUNVI เครื่องจำลองแสงอาทิตย์ความแม่นยำสูง (High Fidelity Solar Simulator)

(การฉายแสงสเปกตรัมความแม่นยำสูง พื้นที่ฉาย 20×20 มม.)

เครื่องจำลองแสงอาทิตย์ความแม่นยำสูงแบบ 2 แหล่งกำเนิดแสง ซึ่งประกอบด้วยตะเกียงซีนอนและตะเกียงฮาโลเจน
สามารถฉายแสงจำลองแสงอาทิตย์ที่ลดเส้นสเปกตรัม (Emission lines) ในย่านอินฟราเรดใกล้ได้
ได้รับการรับรองตามมาตรฐาน JIS C8942 โดยมีค่าความสอดคล้องของสเปกตรัม (Spectral Match), ความสม่ำเสมอของแสง (Spatial Uniformity) และความเสถียรของแสง (Temporal Stability) ทั้งหมดอยู่ในระดับ JIS Class MA

MOS-100 เครื่องจำลองแสงอาทิตย์แบบปรับความเข้มแสงได้ (Variable Light Intensity Solar Simulator)

เครื่องมือที่ช่วยให้สามารถวัดค่า I-V ได้ด้วยเครื่องจำลองแสงอาทิตย์แบบควบคุมปริมาณแสงอัตโนมัติ
เครื่องจำลองแสงอาทิตย์สามารถปรับความเข้มของแสงที่ฉายได้โดยอัตโนมัติตั้งแต่ 0.01 ถึง 200mW/cm²
การควบคุมเครื่อง การตรวจวัดข้อมูล และการประมวลผลข้อมูล ดำเนินการผ่านคอมพิวเตอร์โน้ตบุ๊กที่ติดตั้งมาพร้อมกับเครื่อง

BLD-100 แหล่งกำเนิดแสง LED สำหรับประเมินแสงภายในอาคาร (Indoor Light Evaluation)

เป็นแหล่งกำเนิดแสง LED และพาวเวอร์ซัพพลายควบคุมความสว่าง สำหรับประเมินประสิทธิภาพของเซลล์แสงอาทิตย์แบบออร์แกนิกในการใช้งานกับแสงภายในอาคาร
แหล่งกำเนิดแสง LED รองรับการปรับความเข้มแสงแบบดิจิทัล 256 ระดับ สามารถปรับความเข้มแสงระหว่างความส่องสว่างต่ำ (200 Lx) และความส่องสว่างสูง (1000 Lx) ได้โดยไม่ต้องเปลี่ยนความสูงของหน้าจอที่ส่องสว่าง
มีความโดดเด่นในด้านความสะดวกและการทำซ้ำได้ (Reproducibility)
สามารถเพิ่มอุปกรณ์เสริมเป็นห้องเก็บตัวอย่างโครงสร้างชีลด์แม่เหล็กไฟฟ้า (Electromagnetic Shield) เพื่อฉายแสงตั้งแต่ความส่องสว่างต่ำไปจนถึงสูง (0～1000 Lx) โดยไม่ได้รับผลกระทบจากแสงภายนอก

BIR-50 ระบบทดสอบความทนทานต่อแสงของเซลล์แสงอาทิตย์ (Solar Cell Light Resistance Test System)

(ประเภทตู้ควบคุมอุณหภูมิ พื้นที่ฉาย 50×50 มม.)

ด้วยการผสมผสานเครื่องจำลองแสงอาทิตย์ขนาด 50 มม. (Class AAA) แบบดั้งเดิมเข้ากับตู้ควบคุมอุณหภูมิ (Constant Temperature Chamber) ทำให้สามารถทำการทดสอบการเสื่อมสภาพจากแสง (Light Degradation) และการเสื่อมสภาพจากอุณหภูมิ (Thermal Degradation) ของเซลล์แสงอาทิตย์ได้อย่างแม่นยำยิ่งขึ้น
นอกจากนี้ ภายในตู้ยังติดตั้งขั้วต่อ BNC ทำให้สามารถวัดค่า I-V ได้อีกด้วย

BIP-KV201 เครื่องมือวัดพลังงานไอออไนเซชัน (Ionization Energy Measurement System)

(ช่วง 9.54～4.0eV แบบขาตั้งวางพื้น)

การใช้เทคนิคการวัดการปลดปล่อยโฟโตอิเล็กตรอน (Photoelectron Yield Spectroscopy หรือวิธี PYS) ทำให้สามารถวัดภายใต้สภาวะบรรยากาศไนโตรเจน บรรยากาศปกติ และสุญญากาศได้
ด้วยการออกแบบเครื่องแยกแสงและระบบออปติกเป็นแบบชะล้างด้วยไนโตรเจน (Nitrogen Purge) ทำให้สามารถฉายแสงอัลตราไวโอเลตสุญญากาศ (Vacuum UV) ที่ให้พลังงานสูงสุดถึง 9.54eV ลงบนตัวอย่างได้

LBC-2 เครื่องมือวัดกระแสไฟฟ้าเหนี่ยวนำด้วยแสงเลเซอร์ (LBIC: Laser Beam Induced Current)

เป็นเครื่องมือสำหรับวัดการกระจายตัวของกระแสไฟฟ้าที่เกิดจากแสง (Photocurrent Distribution) ของเซลล์แสงอาทิตย์และอุปกรณ์แปลงพลังงานแสงเป็นไฟฟ้าชนิดต่างๆ (SiPD, CCD, CMOS)
โดยใช้วิธีการวัดที่เรียกว่า LBIC (Laser Beam Induced Current)
ติดตั้งเลเซอร์ความยาวคลื่น 520nm เป็นมาตรฐาน โดยการเคลื่อนที่ตัวอย่างในแนวแกน XY เพื่อวัดค่ากระแสไฟฟ้าลัดวงจร (Isc)
มีความละเอียดเชิงพื้นที่ (Spatial Resolution) อยู่ที่ประมาณ 10μm และสามารถวัดตัวอย่างได้ขนาดสูงสุดถึง 50×50 มม.
โดยเฉพาะเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดเพอรอฟสไกต์ที่ผลิตด้วยวิธี Spin Coating ซึ่งมักประสบปัญหาความไม่สม่ำเสมอนะหว่างกึ่งกลางและขอบของตัวอย่าง เครื่องนี้จึงเหมาะสมอย่างยิ่งสำหรับการประเมินตัวอย่างดังกล่าว
นอกจากนี้ ยังเหมาะสำหรับการประเมินความสม่ำเสมอของวัสดุเคลือบในอุปกรณ์อย่าง SiPD, CCD และ CMOS อีกด้วย